隨著科技的高速發(fā)展，電子產(chǎn)品及高科技的發(fā)展越來(lái)越智能化、多樣化?，F(xiàn)代高性能的復(fù)雜電子系統(tǒng)中離不開(kāi)高性能的頻率基準(zhǔn)，其穩(wěn)定性、準(zhǔn)確度和可靠性直接影響著整個(gè)系統(tǒng)的可靠性和性能。例如，一些電子產(chǎn)品常用的貼片晶振、石英晶振、溫補(bǔ)晶振、石英晶體振蕩器和32.768K等一系列頻率元件。接下來(lái)，我們將介紹一下恒溫晶振測(cè)試方法以及它們的優(yōu)缺點(diǎn)。
恒溫晶振(0CX0)是將晶振置于恒溫槽內(nèi)，并通過(guò)設(shè)置恒溫工作點(diǎn)來(lái)維持恒溫狀態(tài)。在一定范圍內(nèi)，該晶振的輸出頻率不會(huì)受到外界溫度的影響，并達(dá)到穩(wěn)定輸出的效果。快速穩(wěn)定性能是當(dāng)前恒溫晶振的重要指標(biāo)之一。鑒于該指標(biāo)測(cè)試的專(zhuān)業(yè)性和復(fù)雜性，需要一套測(cè)試系統(tǒng)并完善相應(yīng)的測(cè)試規(guī)范，以滿足對(duì)恒溫晶振的測(cè)試需求。