恒溫晶振做為**主要的數(shù)字時(shí)鐘源早已被普遍的作用于各種各樣仿真模擬和數(shù)字電路設(shè)計(jì)中，一般狀況下我們知道在影響恒溫晶振性能的要素中，在其中辦公環(huán)境是**首要的，還有一個(gè)要素，也是**非常容易被忽視的，那便是晶振的外殼。
晶振品質(zhì)的優(yōu)劣立即影響到電源電路工作中情況，而晶振外殼質(zhì)量也是影響晶振性能的首要原因之一。晶振外殼選用高速沖床持續(xù)沖壓模具成形，經(jīng)很多觀查和剖析發(fā)覺，關(guān)鍵缺點(diǎn)有內(nèi)底邊與吊頂?shù)陌己?、?nèi)底邊與吊頂?shù)墓魏郏瑐?cè)邊裂開和側(cè)邊撓曲。側(cè)邊撓曲比較嚴(yán)重一樣能夠影響晶振的品質(zhì)，就是指外殼關(guān)鍵側(cè)邊不平行面。理論上這類側(cè)邊的撓曲缺點(diǎn)促使原本與燈源平行面的內(nèi)側(cè)邊產(chǎn)生小視角歪斜，其在圖片上的主要表現(xiàn)是晶振外殼凸臺里側(cè)邊沿變寬和不平行面。
恒溫晶振外殼品質(zhì)對晶振的性能有很大的影響。對于工業(yè)生產(chǎn)當(dāng)場中晶振外殼撓曲缺點(diǎn)的特性，我們可以檢驗(yàn)晶振外殼里側(cè)邊沿間的間距。由于晶振的外殼硬實(shí)，內(nèi)部易破碎，沒法暴力行為拆卸，但是一般狀況下不建議拆卸，因此我們在包裝恒溫晶振的那時(shí)候要需注意，以防對其外殼在物流運(yùn)輸全過程中被毀壞，進(jìn)而影響晶振的性能。